專利競爭環(huán)境分析包括:（1）專利指標(biāo)的細(xì)化、綜合和時(shí)間、空間的分析。上述專利指標(biāo)的描述還是比較粗糙，還可進(jìn)行進(jìn)一步的細(xì)分，比如引證率可分為自我引證率和被（外界）引率。自我引證率描述后續(xù)專利引用自身專利的情況，引證率越高說明研發(fā)的自主性越強(qiáng)，被引率越高說明該項(xiàng)技術(shù)的含量越高。此外，各項(xiàng)專利指標(biāo)不是孤立的，把戰(zhàn)略性指標(biāo)如同族專利指數(shù)和技術(shù)性指標(biāo)如科學(xué)關(guān)聯(lián)性項(xiàng)結(jié)合，以時(shí)間和空間為軸進(jìn)行綜合分析，才可得到比較全面的信息。 （2）許多專利指針本身具有產(chǎn)業(yè)依存性。如技術(shù)生命周期會(huì)因技術(shù)領(lǐng)域不同而有所差距。相對熱門的技術(shù)其TCT較短，如電子類TCT約3至4年，而造船類TCT可能長達(dá)15年。 （3）專利指標(biāo)可以測度技術(shù)發(fā)展，但不可以絕對化。重要的發(fā)明或創(chuàng)新，尤其是能夠帶來長期經(jīng)濟(jì)利益的發(fā)明，一般要申請專利。但是很多技術(shù)發(fā)明不采用專利保護(hù)方式，而采用商業(yè)秘密或盡快產(chǎn)業(yè)化的形式，因此專利與技術(shù)發(fā)明或技術(shù)創(chuàng)新并不是一一對應(yīng)的。 （4）不同領(lǐng)域之間的數(shù)據(jù)比較應(yīng)當(dāng)謹(jǐn)慎。專利申請的傾向在不同技術(shù)領(lǐng)域之間差別很大。有的領(lǐng)域技術(shù)創(chuàng)新活動(dòng)很活躍，但不適于采用專利方式取得保護(hù)，如電子信息領(lǐng)域，往往通過推向市場先發(fā)優(yōu)勢取得經(jīng)濟(jì)回報(bào)。又如專利不包括軟件、組織方法等方面的發(fā)明，因此排除了服務(wù)業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新。這樣在不同領(lǐng)域之間進(jìn)行比較時(shí)，對所分析行業(yè)的特點(diǎn)要有所了解，才能更準(zhǔn)確地進(jìn)行比較。（5）各國專利制度的差異帶來的數(shù)據(jù)比較的障礙。由于各國專利制度的差異，各國專利的具體審核標(biāo)準(zhǔn)、審批程序等方面存在不同之處。如多項(xiàng)相互聯(lián)系的技術(shù)發(fā)明在美國可以合并申請一項(xiàng)專利，但在日本則必須提出若干項(xiàng)的分案申請。這樣不同國家進(jìn)行比較，有時(shí)會(huì)帶來很大偏差。如專利數(shù)量差距巨大，還可以說明問題；但如果在同一或相近數(shù)量級上，就難以給出確切結(jié)論。所以做專利國際比較時(shí)，一般不用不同專利體系的數(shù)據(jù)，而是選擇同一大型專利體系，如美國專利與商標(biāo)局或歐洲專利局。但這又帶來另一個(gè)問題，即“本土優(yōu)勢”。（6）專利文獻(xiàn)時(shí)滯對分析數(shù)據(jù)的影響。盡管實(shí)行了專利申請的早期公開和延遲審查制度，很多專利的申請日和公開日之間還通常存在18個(gè)月的時(shí)滯，這對于那些技術(shù)創(chuàng)新頻繁的企業(yè)，尤其是處于技術(shù)生命周期短的產(chǎn)業(yè)企業(yè)來說，將直接影響結(jié)果的分析和預(yù)測。二、定性分析 定性分析一般根據(jù)專利的內(nèi)容特征進(jìn)行分類或聚類，結(jié)合時(shí)間和空間，進(jìn)行比較分析、組合分析、關(guān)聯(lián)分析、序列分析、預(yù)測分析等。例如，從專利文獻(xiàn)的主要側(cè)重面來看，若某種技術(shù)專利文獻(xiàn)的內(nèi)容多以原理為主，說明該項(xiàng)技術(shù)處于新興期；若以應(yīng)用為主，說明處于成熟期。 三、專利地圖及其應(yīng)用 專利地圖是指對一次、二次、三次等專利文獻(xiàn)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果整理成各種圖表，即將專利信息“地圖化”。專利地圖作為一種搜集、整理和顯示專利信息的工具，可視性強(qiáng)，便于理解，一般分為專利管理圖、專利技術(shù)圖、專利權(quán)利圖。 專利管理圖主要包括：歷年專利動(dòng)向圖、各國專利占有比例圖、專利排行榜、主要競爭公司分析圖、公司專利平均年齡圖、公司發(fā)明陣容比較圖、公司定位綜合分析表、公司專利件數(shù)分布圖、公司專利件數(shù)消長圖、發(fā)明人專利件數(shù)分布圖等，主要顯示了技術(shù)的發(fā)展趨勢，進(jìn)行競爭企業(yè)的實(shí)力剖析和動(dòng)向預(yù)測。 專利技術(shù)圖包括IPC（國際分類）分析圖、技術(shù)生命周期圖、專利技術(shù)功效矩陣圖、專利技術(shù)分布圖、專利技術(shù)領(lǐng)域累計(jì)圖、專利多種觀點(diǎn)解析圖、挖洞技術(shù)顯微圖等。技術(shù)圖鎖定某項(xiàng)技術(shù)或公司進(jìn)行地毯式搜索，主要顯示技術(shù)演變、擴(kuò)散狀況、研發(fā)策略、回避設(shè)計(jì)、挖洞技術(shù)的可行性。 專利權(quán)利圖主要包括專利范圍構(gòu)成要件圖、專利范圍要點(diǎn)圖、專利家族圖、重要專利引用族譜圖，主要剖析研發(fā)空間和市場空間。 專利地圖的制作流程為：確定專利分析主題－建立專利檢索策略和分類方法－專利文獻(xiàn)篩選、分類－專利文獻(xiàn)閱讀解析－建立專利管理圖、技術(shù)圖、權(quán)利圖－專利地圖庫信息解析－重要專利全文精析－技術(shù)創(chuàng)新、侵權(quán)比對、回避設(shè)計(jì)－專利申請驗(yàn)證－專利地圖更新。